雙束掃描電鏡

雙束掃描電鏡借助這款掃描電子顯微鏡的超快速度,開啟您對新維度的探索?，F如今,在MultiSEM出色的圖像采集速度推動下,您終于能夠以納米級的圖像分辨率對大型樣品進行高通量快速成像。

MultiSEM專為全天候連續可靠的運行而設計。只需簡單設置高性能數據圖像采集工作流程,然后,在MultiSEM自行拍攝納米分辨率的高襯度圖像時,您便可以繼續您的其他工作,無需實時查看著它的運行。

MultiSEM使用ZEN成像軟件,讓您可以直觀而靈活地操控這款高性能的顯微鏡。自動調節程序能保證您獲得出色的高分辨率數據。

雙束掃描電鏡更簡單、更智能、更高度集成：

納米級分辨率下的超快圖像采集速度：

多條電子束平行工作,為您帶來的總體成像速度。在4nm像素大小下采集1mm²的區域只需幾分鐘成像時間。憑借每小時超過1TB的出色成像速度,可在納米級的圖像分辨率下對大體積物體(>1mm³)的連續超薄切片樣本進行成像。優化的探測器會非常有效地收集二次電子信號,為您在低噪音水平下提供高襯度圖像。

適用于大型樣品的電子顯微鏡：

MultiSEM為全天候連續運行而設計,并配備了一個可容納10cmx10cm大小樣品的樣品夾。這意味著您不必再為了納米級的圖像分辨率而犧牲樣品尺寸。您終于可以對整個樣品進行成像,發現您所需要的一切,解答您的科學疑問。通過自動圖像采集方案可實現大面積成像,您將獲得細節完備的整張圖像,且不會丟失宏觀信息。

配備ZEN成像軟件的電子顯微鏡：

通過將ZEN引入MultiSEM,我們將蔡司光學顯微鏡的標準化軟件帶入了電子顯微鏡的世界。ZEN可以讓您以一種簡單直觀的方式操控MultiSEM。智能化自動調節程序能夠支持您捕獲具有高分辨率和高質量的出色圖像。您可以快速輕松地設置復雜的自動圖像采集流程,將其用于您的樣品成像。

用于MultiSEM的ZEN還具有連續平行圖像記錄所需的高速度。為實現靈活快速的應用開發,它還具有一個開放的應用編程接口(API)。

MultiSEM通過采用多條電子束和檢測器并行的方式實現超快的成像速度。這種方法的關鍵是 一個經過微調的探測路徑  (紅色),它能夠收集大量的二次電子,用于多探測器陣列的成像 。 每條電子束在樣品的一個位置執行同步掃描程序,以此獲得單個子圖像。電子束呈特色鮮明 的六邊形排列。通過將所有子圖像合并在一起,最終形成完整的圖像。并行的計算機設置程 序用于快速記錄數據,以保證達到的整體成像速度 。在 MultiSEM 系統中,圖像采集和工 作流程控制獨立,以保證充分發揮性能。

采集連續切片的補充工作流解決方案：

ATUMtome 是一款具有自動條帶收集裝置的超薄切片機,一天內可以收集多達 1000 個連續切片。隨后,帶有切片的條帶被安裝在硅片上 ,  可 以用帶有 ZEN 成像軟件和 Shuttle & Find 的蔡司光學顯微鏡進行成像。

您可以通過拍攝光學顯微鏡概覽圖像來設計實驗,并在 MultiSEM 中使用相同的 ZEN 軟件用戶界面輕松瀏覽您的樣品 。規劃和設置采集工作流程 只需一個圖形用戶界面。自動切片檢測可以支持您以非常有效的方式識別和鎖定感興趣區域。