掃描電子顯微鏡SEM

蔡司開啟電子顯微鏡速度的革新時代

　　借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時的連續、可靠運行而設計。只需簡單設置高性能數據采集流程，MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。

　　使用成熟的 ZEN 成像軟件控制 MultiSEM：您可以直觀靈活地管理這款高性能掃描電子顯微鏡的所有功能選項。

　　以速度和納米分辨率采集圖像

　　91 條電子束同時工作，擁有出色的成像速度。

　　在幾分鐘內對1 mm2的區域成像，分辨率高達 4 nm。

　　借助經優化的二次電子探測器，以低信噪比采集高襯度圖像。

　　大型樣品的采集和成像

　　MultiSEM 配備有一個可容納 10 cm x 10 cm 大小樣品的樣品夾。

　　對整個樣品成像并發現所有細節，助力于科研。

　　自動采集方案可實現大面積成像 - 您將獲得精細的納米圖像，且不丟失可見信息。

　　ZEN 成像軟件

　　使用成熟的ZEN軟件簡便直觀地操控 MultiSEM，該軟件被應用于所有蔡司成像系統

　　智能化自動調節程序能夠幫助您以高分辨率和高襯度捕獲圖像

　　根據樣品的實際情況，快速輕松地創建復雜的自動采集流程

　　MultiSEM的ZEN 軟件可高速進行連續并行成像

　　開放的API軟件接口可提供靈活快速的應用開發

　　對大體積樣品連續切片斷層掃描的數據獲取

　　使用ATUMtome 自動切割樹脂包埋生物組織。 一天內搜集多達1000個連續切片。

將切片用膠帶固定在硅晶片上并用蔡司的光學顯微鏡成像。使用蔡司的 ZEN 成像軟件以及 Shuttle & Find 功能組件對整體成像。再將硅晶片移至 MultiSEM 電子顯微鏡下，對樣品進行整體預覽并利用 ZEN 軟件用戶界面規劃整個實驗。

用圖形化的控制中心設置整個實驗。高效的自動切片檢測可以識別和標注感興趣區域，節省大量時間。